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超聲波掃描顯微鏡,超聲波掃描檢測儀,超聲波掃描顯微檢測系統

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關鍵詞： (8個字符) 超聲、掃描、檢測、

描述： (214個字符) 超聲波掃描顯微鏡,ScanningAcousticMicroscope(SAM),就是利用超聲波檢測技術對器件進行掃描測試顯微成像的設備.幾十年的快速發展中,超聲波掃描顯微鏡檢測分辨率和準確性不斷提高.2009年,首臺國產超聲波掃描顯微鏡推出,并擁有多項專利及自主核心技術,廣泛用于材料和器件內部缺陷無損檢測.作為無損檢測的新一代技術,超聲波掃描顯微鏡擁有不可替代的優勢,已成為用戶研發和生產的可靠保障,而且大幅降低了采購成本.

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 隨 后 ， 俄 羅 斯 科 學 院 實 現 了 G H z 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 和 高 達 5 0 0 M H z 的 透 射 超 聲 掃 描 顯 微 鏡 。 
 第 一 臺 商 用 檢 測 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 由 斯 坦 福 大 學 、 俄 羅 斯 科 學 院 、 牛 津 大 學 聯 合 研 制 ， 該 超 聲 掃 描 顯 微 鏡 覆 蓋 1 0 0 M H z 到 1 . 8 G H z 的 頻 率 范 圍 。 
 ? ? 隨 后 的 幾 十 年 ， 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 得 到 了 快 速 發 展 ， 檢 測 分 辨 率 和 準 確 性 不 斷 提 高 。 
 在 超 聲 掃 描 顯 微 鏡 的 研 制 上 ， 美 國 和 德 國 起 步 早 ， 發 展 快 ， 檢 測 技 術 也 比 較 領 先 。 
 但 是 ， 隨 著 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 在 科 技 領 域 不 斷 扮 演 不 可 或 缺 的 角 色 ， 國 內 也 陸 續 開 展 了 相 關 研 制 ， 十 幾 年 前 就 已 推 出 國 產 超 聲 掃 描 顯 微 鏡 。 
 ? ? 目 前 ， 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 已 成 為 某 些 行 業 科 研 及 生 產 制 造 不 可 或 缺 的 檢 測 設 備 ， 國 內 公 司 在 超 聲 掃 描 顯 微 鏡 研 發 上 不 斷 增 加 投 入 ， 逐 步 縮 小 了 與 國 外 超 聲 掃 描 顯 微 鏡 的 差 距 ， 與 進 口 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 同 臺 競 技 。 
 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 助 力 半 導 體 封 裝 檢 測 ? ? 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 ， S c a n n i n g A c o u s t i c M i c r o s c o p e ( S A M ) ， 顧 名 思 義 ， 就 是 利 用 超 聲 波 檢 測 技 術 對 器 件 進 行 掃 描 測 試 顯 微 成 像 的 設 備 。 
 超 聲 波 掃 描 顯 微 鏡 能 夠 對 器 件 進 行 表 面 、 內 部 、 穿 透 等 多 種 掃 描 顯 微 成 像 ， 廣 泛 用 于 對 微 電 子 、 集 成 電 路 、 航 空 航 天 領 域 的 器 件 、 組 件 和 材 料 的 檢 測 ， 實 現 失 效 分 析 、 可 靠 性 分 析 、 過 程 控 制 、 品 質 控 制 、 產 品 研 發 、 工 藝 提 升 等 。 
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